At SEMICON Europa – Europe’s leading trade fair for microelectronics – jumavis® is presenting revolutionary solutions for quality assurance in semiconductor manufacturing.
In recent years, jumavis® has successfully established exclusive partnerships with key manufacturers of components for nanometer-precision wafer inspection. Combined with the exceptional expertise of its in-house specialists in this field, jumavis® offers customers solutions that until recently seemed impossible.
In semiconductor manufacturing, minute feature sizes and complex material layers demand entirely new approaches to quality assurance: reliable measurements in the nanometer range, achieved through a synergy of confocal line scanning, 3D profiling, and precise positioning. Together with their partners, LMI Technologies and PEAK-Metrology, the specialists at jumavis® offer turnkey, end-to-end solutions for the efficient inspection of the smallest structures.
High-precision 3D inspection in the sub-micrometer range requires flawless synchronization between sensor technology and mechanics. Thanks to the combination of confocal line sensor technology (LCI) and vibration-free positioning technology, successful 3D inspection is possible even on highly reflective or transparent surfaces.
For the inspection systems showcased at Semicon, jumavis® acts as an experienced system provider, combining confocal line sensors from LMI Technologies (Gocator series) with robust, vibration-free granite positioning systems from Peak Metrology.
jumavis®’s core strength lies in application engineering: by synchronizing axis control and sensor technology via software – such as X-Y and Z-stitching – the company creates a comprehensive system precisely tailored to specific wafer and electronics manufacturing processes. This system integrates seamlessly into existing production lines, thereby delivering exceptional cost-efficiency.
„We are very proud to have successfully transformed jumavis® from a component dealer into a competent system integrator within just a few years,“ says founder and Managing Director Johanna Unrath. „We are confident that we will succeed in impressing our customers and visitors.“
In addition, jumavis® is showcasing further innovations from its many partners in clearly arranged display cases, demonstrating its versatility as *the* specialist and distributor for all optical quality control applications – offering everything from consultation and system configuration to feasibility studies from a single source.
Would you like to visit us at Semicon 2026 in Munich? Then please do not hesitate to get in touch with us – for instance, to arrange your personal admission ticket. We would be happy to schedule a meeting with you.
Jumavis präsentiert auf der SEMICON Europa, der führenden europäischen Fachmesse für Mikroelektronik revolutionäre Lösungen für die Qualitätssicherung in der Halbleiterfertigung.
In den letzten Jahren gelang es jumavis® exklusive Partnerschaften mit den wichtigsten Herstellern von Komponenten für die Wafer-Inspektion in Nanometer-Präzision zu schließen. Kombiniert mit der außerordentlichen Expertise der hauseigenen Spezialisten in diesem Bereich, bietet jumavis® seinen Kunden Lösungen, die vor Kurzem noch unmöglich erschienen.
In der Halbleiterfertigung erfordern kleinste Strukturgrößen und komplexe Materialschichten völlig neue Ansätze in der Qualitätssicherung: zuverlässige Messungen im Nanometerbereich, die durch eine Synergie aus konfokalem Linienscan, 3D-Profling und präziser Positionierung erreicht werden können. Zusammen mit Ihren Partnern LMI Technologies und PEAK-Metrology bieten die Spezialisten von jumavis® „schlüsselfertige“ Komplettlösungen für eine effiziente Inspektion kleinster Strukturen.
Die hochpräzise 3D-Inspektion im Submikrometerbereich erfordert die fehlerfreie Synchronisation von Sensorik und Mechanik. Dank der Kombination aus konfokaler Liniensensorik (LCI) und schwingungsfreier Positioniertechnik gelingt so die 3D-Inspektion selbst bei stark spiegelnden oder transparenten Oberflächen.
Bei den auf der Semicon vorgestellten Inspektionssystemen fungiert jumavis® als erfahrener Systemanbieter und kombiniert die konfokalen Liniensensoren von LMI Technologies (Gocator-Serie) mit den massiven, schwingungsfreien Granit-Positioniersystemen von Peak Metrology.
Die Leistung von jumavis® liegt dabei im „Application-Engineering“: Durch die softwareseitige Synchronisation von Achsensteuerung und Sensorik (wie das X-Y- und Z-Stitching) entsteht ein exakt auf die jeweilige Wafer- und Elektronikfertigung abgestimmtes Gesamtsystem, das sich nahtlos in bestehende Produktionslinien integrieren lässt und dadurch außerordentliche Wirtschaftlichkeit erreicht.
„Wir sind sehr stolz, dass es uns innerhalb weniger Jahre gelungen ist jumavis® vom Händler für Komponenten zum kompetenten Systemintegrator zu entwickeln “, so Gründerin und Geschäftsführerin Johanna Unrath. „Wir sind sicher, dass es uns gelingt, unsere Kunden und Besucher zu begeistern.“
Weiter präsentiert jumavis® in übersichtlichen Vitrinen weitere Innovationen der vielen Partner und beweist seine Vielfalt als DER Spezialist und Distributor für alle Anwendungen in der optischen Qualitätskontrolle: Beratung, Zusammenstellung bis zur Machbarkeitsstudie – alles aus einer Hand.
Sie möchten uns auf der Semicon 2026 in München besuchen? Dann zögern Sie nicht, sich mit uns in Verbindung zu setzen, z. B. für Ihr persönliches Eintrittssticket. Gerne planen wir für Sie einen Gesprächstermin ein.
Direct dialogue between policymakers and innovative companies is a key element in maintaining a strong business location.
At the invitation of Waldbronn Mayor Christian Stalf, jumavis GmbH had the pleasure of welcoming the Member of the German Bundestag Nicolas Zippelius to its premises on July 14, 2026. The visit focused on a dialogue regarding economic policy issues and an exchange on funding opportunities for innovative small and medium-sized enterprises.
CEO Johanna Unrath presented jumavis GmbH, outlining the company’s areas of expertise and service portfolio. Subsequently, Dr.-Ing. Tobias Wiesendanger provided insights into jumavis’s technical expertise using two practical examples, demonstrating the application of modern image processing and measurement technology. As highlights were demonstrated:
– a 2D inspection system featuring Navitar lenses for quality control of printed circuit boards (PCBs), and
– a confocal 3D measurement system from LMI Technologies for the high-precision inspection of microchips.
The demonstrations illustrated the vital contribution that innovative engineering solutions make to quality assurance and industrial automation.
We would like to thank Mr. Zippelius for the open and constructive discussion, as well as Mr. Stalf for initiating this exchange. Dialogue between the political, business, and technology sectors is essential for fostering innovation and sustainably strengthening competitiveness.
The guests are visibly impressed by the performance of the LMI 3D measurement system.
Der direkte Austausch zwischen Politik und innovativen Unternehmen ist ein wichtiger Baustein für einen starken Wirtschaftsstandort.
Auf Einladung des Bürgermeisters der Gemeinde Waldbronn Christian Stalf, durfte die jumavis GmbH am 14. Juli 2026 den Bundestagsabgeordneten Nicolas Zippelius in ihren Räumlichkeiten begrüßen. Im Mittelpunkt des Besuchs standen der Dialog über wirtschaftspolitische Themen sowie der Austausch zu Fördermöglichkeiten für innovative mittelständische Unternehmen.
Geschäftsführerin Johanna Unrath stellte die jumavis GmbH, ihre Kompetenzen und ihr Leistungsspektrum vor. Im Anschluss gab Dr.-Ing. Tobias Wiesendanger anhand zweier Praxisbeispiele Einblicke in die technische Expertise von jumavis und demonstrierte den Einsatz moderner Bildverarbeitungs- und Messtechnik. Highlights waren
– ein 2D-Prüfsystem mit Navitar-Objektiven zur Qualitätsprüfung von Leiterplatten und
– ein konfokales 3D-Messsystem von LMI Technologies zur hochpräzisen Inspektion von Microchips.
Die Vorführungen verdeutlichten, welchen Beitrag innovative Ingenieursleistungen zur Qualitätssicherung und Automatisierung in der Industrie leisten.
Wir bedanken uns bei Herrn Zippelius für das offene und konstruktive Gespräch sowie Herrn Stalf für die Initiative zu diesem Austausch. Der Dialog zwischen Politik, Wirtschaft und Technologie ist eine wichtige Grundlage um Innovationen zu fördern und die Wettbewerbsfähigkeit nachhaltig zu stärken.
Die Gäste zeigen sich von der Leistungsfähigkeit des LMI 3D-Messsystems sichtlich beeindruckt.
